清洗液
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清洗液

所属分类: CMP制程材料

主要用于去除残留在晶圆表面的微尘颗粒、、有机物、、、无机物、、、金属离子、、、氧化物等杂质,满足集成电路制造对清洁度的极高要求,对晶圆生产的良率起到了重要的作用。。

产品详情

产品产品介绍分类关键性能描述
DZ38X系列

用于集成电路制造中,,,金属铜后清洗的碱性配方型清洗液,,,能有效去除表面颗粒、、、有机物及金属污染物,,,,并兼具铜保护功能,,已在存储器件与逻辑器件量产中使用。。

金属类化学机械抛光后清洗液

产品清洗效果优异,,,,安全性能高,,,Q-time较高,,对铜的腐蚀速率低

DZ611

用于集成电路制造中,,金属铜及金属钨CMP后清洗的酸性配方型清洗液,,,,应用覆盖多个工艺节点,,,,能有效去除表面颗粒、、、有机物及金属污染物。。。

产品清洗效果优异,,,,安全性能高,,对铜的腐蚀速率低

DZ101

用于集成电路制造中,,,金属钨和氮化硅CMP后清洗的配方型清洗液,,,在涉及多重材料界面的CMP后清洗工艺中具有良好的清洁表现。。。产品已在逻辑器件量产中使用。。

产品对W、、、、SiN、、、、TEOS、、TiN和Co等多种材料具有良好的兼容性及清洗效果

DZ105

用于集成电路制造中,,,,金属钨清除沾污的酸性配方型清洗液,,旨在针对抛光垫表面清洁,,用于降低金属栅极工艺的沾污程度。。

产品对W、、、、SiN、、、、Co、、、、Al、、Ti、、TiN具有极低的腐蚀速率及良好的清洗效果

DZ4XX系列

用于集成电路制造中,,金属钨CMP后清洗的弱酸型清洗液,,,,主要用于金属栅极清洗,,已在逻辑器件量产中使用。。。

产品在W和TEOS表面拥有很好的清洗性能,,,,同时对W、、、、SiN、、TEOS、、TiN以及Co拥有良好的材料兼容性。。

DZ6XX系列

用于集成电路制造中,,,,金属铝CMP后清洗的酸性清洗液,,,,具有良好的清洁表现及极低的缺陷率,,,,已在逻辑器件量产中使用。。

产品清洗效果优异,,,,与Al、、、、TEOS等多种材料兼容性佳,,,,对铝的腐蚀速率较低。。

DZ1XX系列

用于集成电路制造中,,,多晶硅和氮化硅 CMP后清洗的配方型清洗液,,应用于抛光垫表面,,能有效去除表面颗粒污染物,,已在逻辑器件量产中使用。。

非金属类化学机械抛光后清洗液

产品兼容Poly-Si、、SiN和TEOS,,,可以适用于STI、、、ILD、、、ILD0以及Poly等制程的辅助清洗

关键词:清洗液

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主要用于去除残留在晶圆表面的微尘颗粒、、、有机物、、无机物、、、金属离子、、、氧化物等杂质,满足集成电路制造对清洁度的极高要求,对晶圆生产的良率起到了重要的作用。。。

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电话:027-59881888

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